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Computed Electron Micrographs and Defect Identification

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Computed Electron Micrographs and Defect Identification

A.K. HEAD, P. HUMBLE, L.M. CLAREBROUGH, A.J. MORTON and C.T. FORWOOD (Eds.)

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种类:

年:

1973

出版社:

Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S

语言:

english

页:

1

ISBN 10:

0720417570

ISBN 13:

9780720417579

系列:

Defects in Crystalline Solids 7

文件:

PDF, 11.97 MB

IPFS:

,

english, 1973

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